El Centro de Microscopía – MicroCore cuenta con más de 10 años de experiencia en microscopía especializada. Ofrece cuatro líneas principales de servicio:
-
Microscopía de Barrido Electrónico (SEM), que incluye EDX, Cryo-SEM, FIB y STEM.
-
Microscopía de Fuerza Atómica (AFM), con técnicas como espectroscopía de fuerza, indentación y varias modalidades de microscopía de fuerza.
-
Microscopía Confocal de Barrido Laser (CLSM), que dispone de láseres de excitación, microscopía de fluorescencia y control ambiental.
-
Técnicas de Preparación de Muestras (SPT), que abarcan ultramicrotomía, metalización por sputtering y secado de punto crítico.
El personal multidisciplinario de MicroCore brinda soporte en investigación, diseño de experimentos y análisis de resultados en biociencia, ingeniería, física y química.
SERVICIOS
Préstamo de servicios especializados en microscopía
Para muestras micrométricas.
- (SEM-Vega) Observación por Microscopía Electrónica de Barrido
- (Crio-SEM-Vega) Observación por Microscopía Electrónica de Barrido Criogénica. Se enfría con platina Peltier hasta -30°C
- (AFM-Estandar) Observación por Microscopía de Fuerza Atómica
- (AFM-Eléctrica) Observación por Microscopía de Fuerza Atómica
- (AFM-Magnética) Observación por Microscopía de Fuerza Atómica
- (AFM-Punta propia) Observación por Microscopía de Fuerza Atómica
- (CLSM) Observación por Microscopía Confocal Laser
Para muestras micro, submicro y nanométricas.
- (SEM-Lyra) Observación por Microscopía Electrónica de Barrido por emisión de campo (ofrece alta resolución).
- (FIB-SEM) Integra un SEM de alta resolución junto con un haz de iones focalizados (FIB) que permite remover de manera preciosa, capas sucesivas de la muestra para estudiar su estructura interna.
- (STEM-Lyra) Observación por Microscopía Electrónica de Transmisión en un SEM. Se enfoca un haz de electrones sobre una zona en la muestra ultradelgada. Los electrones que logran atravesarla son registrados por detectores, lo que permite formar una imagen de su estructura interna.
- (FM-IX71) Observación por Microscopía de Fluorescencia
- (BF-IX71) Observación por Microscopía de Campo Claro
- (DH) Proceso de Deshidratación de Muestras
- (FIX) Proceso de Fijación de Muestras
- (CPD) Proceso de Secado de punto crítico de Muestras
- (C-SP) Proceso de Recubrimiento con Grafito de Muestras
- (Au-SP) Proceso de Recubrimiento con Oro de Muestras
- (STEM) Preparación de Muestras para STEM (Una muestra)
- (CUT) Proceso de Corte de Precisión de Muestras
- (CRIO) Proceso de Criofractura de Muestras
- (MESH) Rejillas para STEM
FLUJO DE TRABAJO
Contacto inicial
Escríbenos al correo electrónico del MicroCore, aquí
Formulario de solicitud
Recibirás un formulario por correo para obtener más información sobre tu solicitud.
Cotización
Te enviaremos la cotización a través de correo, una vez tengamos toda la información necesaria.
Confirmación de pago
Puedes realizar el pago o generar una orden de compra según tu preferencia.
Entrega de muestras
De L a V de 8:00 a.m. a 12:00 m y de 1:00 a 5:00 p.m. debes completar el formulario de recepción de muestras.
Agendamiento
Te contactaremos por teléfono para acordar el horario más conveniente.
Observación y entrega de resultados
Se presta el servicio solicitado y, al finalizar, se hace la entrega de imágenes.
Juan Camilo Orozco
Ingeniero Físico de la Universidad Nacional de Colombia.
CONTACTO
[email protected]
Conmutador [601] 3394949
Extensión: 1444
Universidad de los Andes
Cra. 1 No. 18A-12, Bloque B, Laboratorio B101-B102
Bogotá D.C.
